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    • SiC MOSFET短路特性,短路保護(hù)解析
      • 發(fā)布時(shí)間:2022-12-30 17:14:04
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      SiC MOSFET短路特性,短路保護(hù)解析
      SiC MOSFET的短路保護(hù)
      1.短路故障是導(dǎo)致SiC MOSFET失效的重要原因之一,盡管SiC MOSFET具有較好的導(dǎo)熱性能,但與Si器件和SiC MOSFET的短路性能相比,SiC MOSFET的短路保護(hù)在以下幾個(gè)方面更具挑戰(zhàn)性。
      (1)首先,在相同額定電流容量下,SiC MOSFET芯片面積小,電流密度高,這就導(dǎo)致SiC MOSFET短路承受能力較弱;
      (2)其次,在短路工況下,SiC MOSFET較弱的界面質(zhì)量會(huì)帶來柵極氧化層可靠性問題,由于SiC MOSFET需要更高的正向柵極偏壓,柵電場的增高會(huì)進(jìn)一步加劇短路時(shí)柵極氧化層退化問題;
      (3)為了確保SiC MOSFET可靠運(yùn)行在安全工作區(qū)內(nèi),其較弱的短路承受能力就要求短路保護(hù)電路具有更快地響應(yīng)速度。然而,與Si器件相比,SiC MOSFET 的結(jié)電容更小、開關(guān)速度更高。
      SiC MOSFET獨(dú)特的正溫度系數(shù)跨導(dǎo)導(dǎo)致其開通時(shí)的dI/dt和dV/dt 隨著結(jié)溫的升高均增大。在較高的dI/dt和dV/dt 條件下,SiC MOSFET 短路保護(hù)電路的快速響應(yīng)與抗噪聲能力難以兼顧。
      2.短路故障類型
      SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
      由于短路回路電感較小,一類短路故障電流上升快,對器件危害大,保護(hù)難度較高。
      3.短路測試方法
      兩種常見的短路測試方法
      SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
      (1)基于雙脈沖測試的短路測試方法。
      該方法使用“粗短銅排”代替雙脈沖測試電路中的負(fù)載電感來模擬短路。
      SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
      當(dāng)脈沖發(fā)生器向驅(qū)動(dòng) 器 1 發(fā)送高電平信號時(shí),打開上橋臂 SiC MOSFET,再向驅(qū)動(dòng)器 2 發(fā)送高電平信號,就可以實(shí)現(xiàn) HSF;
      當(dāng)脈沖發(fā)生器向驅(qū)動(dòng)器 2 發(fā)送一個(gè)信號使待測 SiC MOSFET 正常開啟時(shí),再向短路控制開關(guān) S 1 發(fā)送閉 合信號使故障電感 LFault 接入功率回路,就可以實(shí)現(xiàn)FUL。
      (2)基于非線性元件的無損短路測試方法。
      SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
      不同的 SiC MOSFET 短路測試方法如圖所示。該方法是在被測 SiC MOSFET的短路回路中串入非線性元件,如圖所示。非線性元件在額定電流時(shí)內(nèi)阻較低,與SiC MOSFET 相比飽和電流更小。
      當(dāng)脈沖發(fā)生器通過驅(qū)動(dòng)器1開啟該非線性元件時(shí),再通過驅(qū)動(dòng)器2開啟待測器件就可以模擬HSF。當(dāng)短路電流達(dá)到該元件的飽和電流時(shí),短路電流就會(huì)被 限制。當(dāng)短路電流持續(xù)增大時(shí),該元件就會(huì)“熔斷”。
      4.短路失效模式
      目前,SiC MOSFET的短路失效模型主要有柵源級失效和熱逃逸失效;
      SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
      SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
      通過兩種失效模式的現(xiàn)象和成因不難看出,短路能量較低時(shí)可能會(huì)導(dǎo)致SiC MOSFET柵源極失效,而短路能量較高時(shí)可能會(huì)使 SiC MOSFET發(fā)生熱逃逸失效。SiC MOSFET 柵-源極失效時(shí)不一定會(huì)發(fā)生熱逃逸失效,但是熱逃逸失效發(fā)生時(shí)必定伴隨有柵-源極失效。
      5.短路保護(hù)技術(shù)
      SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
      6.短路關(guān)斷策略
      (1)大電阻關(guān)斷。大電阻關(guān)斷是在檢測到短路后,利用大阻值柵電阻來減緩關(guān)斷電流下降速率從 而實(shí)現(xiàn)關(guān)斷過電壓的抑制。
      然而,大電阻關(guān)斷在抑制關(guān)斷過電壓的同時(shí)也致使關(guān)斷延遲時(shí)間增大,導(dǎo)致 SiC MOSFET 不能及時(shí)關(guān)斷,為此,在關(guān)斷過程中采用不同柵極電阻關(guān)斷 SiC MOSFET 短路電流,從而兼顧了SiC MOSFET 短路關(guān)斷過電壓與關(guān)斷延遲時(shí)間,但大電阻關(guān)斷可能導(dǎo)致 SiC MOSFET因關(guān)斷損耗過大而發(fā)生失效。
      (2)降柵壓關(guān)斷。降柵壓關(guān)斷是在檢測到短路后,先緩慢降低柵極電壓,使 SiC MOSFET 維持導(dǎo)通狀態(tài)。在較低柵極電壓下,SiC MOSFET漏極電流會(huì)被限制在較低水平,經(jīng)過一定延遲后,再采用負(fù)壓關(guān)斷短路電流。該方法通過緩降柵壓抑制短路電流,從而降低短路關(guān)斷過電壓,但是該方法需要多種柵極電壓,電路結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)復(fù)雜。
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